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| 関谷研究室, "Bending and Recovery Tests of Organic Field-Effect Transistors," International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM) Young Researcher Award（SSDM 実行委員会）, 2005年9月. | |
| ID | 196 |
| 分類 | 受賞暦 |
| タグ | bending field-effect organic recovery tests transistors |
| 表題 (title) |
Bending and Recovery Tests of Organic Field-Effect Transistors |
| 表題 (英文) |
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| 著者名 (author) |
関谷研究室 |
| 英文著者名 (author) |
Tsuyoshi Sekitani et al. |
| キー (key) |
Tsuyoshi Sekitani et al. |
| 定期刊行物名 (journal) |
International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM) Young Researcher Award（SSDM 実行委員会） |
| 定期刊行物名 (英文) |
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| 巻数 (volume) |
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| 号数 (number) |
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| ページ範囲 (pages) |
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| 刊行月 (month) |
9 |
| 出版年 (year) |
2005 |
| Impact Factor (JCR) |
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| URL |
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| 付加情報 (note) |
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| 注釈 (annote) |
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| 内容梗概 (abstract) |
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| 論文電子ファイル | 利用できません． |
| BiBTeXエントリ |
@article{id196,
title = {Bending and Recovery Tests of Organic Field-Effect Transistors},
author = {関谷研究室},
journal = {International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM) Young Researcher Award（SSDM 実行委員会）},
month = {9},
year = {2005},
}
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